二次篩選:對(duì)電子元器件進(jìn)行外觀檢查、常溫測(cè)試、溫度循環(huán)、顆粒碰撞、噪聲檢測(cè)、常溫中測(cè)、高溫老煉、低溫測(cè)試、高溫測(cè)試、密封檢查等。
環(huán)境試驗(yàn):對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫試驗(yàn)、電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、冷沖擊試驗(yàn)等。
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